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| Artikelnummer: | SN74LVTH182646APM |
|---|---|
| Hersteller / Marke: | Texas Instruments |
| Teil der Beschreibung.: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Datenblätte: |
|
| RoHs Status: | |
| Zahlungsmittel: | PayPal / Credit Card / T/T |
| Versandweg: | DHL / Fedex / TNT / UPS / EMS |
| Aktie: |
Ship From: Hong Kong
| Anzahl | Einzelpreis |
|---|---|
| 160+ | $13.6512 |
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| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
| Supplier Device-Gehäuse | 64-LQFP (10x10) |
| Serie | 74LVTH |
| Verpackung / Gehäuse | 64-LQFP |
| Paket | Tray |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Anzahl der Bits | 18 |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Logiktyp | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
| Grundproduktnummer | 74LVTH182646 |
| SN74LVTH182646APM Einzelheiten PDF [English] | SN74LVTH182646APM PDF - EN.pdf |




SN74LVTH182646APM
Y-IC ist ein hochwertiger Distributor von Produkten von Texas Instruments und bietet Kunden die besten Produkte und Services.
Der SN74LVTH182646APM ist ein 18-Bit ABT-Scan-Testgerät mit Transceivern und Registern. Es handelt sich um eine leistungsstarke, energiesparende CMOS-Logikkomponente, die für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde.
18-Bit-Gerät
ABT-Scan-Testgerät mit Transceivern und Registern
Betriebsspannung von 2,7 V bis 3,6 V
Betriebstemperaturbereich von -40 °C bis +85 °C
Oberflächenmontage in einem 64-LQFP-Gehäuse (10x10 mm)
Effiziente und zuverlässige Leistung
Geringer Stromverbrauch
Weitreichender Betriebstemperaturbereich
Kompaktes und vielseitiges Gehäuse
Das Produkt ist in einem Tray verpackt. Das Gehäuse ist ein 64-LQFP (10x10) Gehäuse für Oberflächenmontage.
Der SN74LVTH182646APM ist ein aktives Produkt. Es sind möglicherweise gleichwertige oder alternative Modelle erhältlich. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an unser Vertriebsteam über unsere Website.
Telekommunikation
Industrielle Automatisierung
Medizintechnik
Unterhaltungselektronik
Das umfassendste technische Datenblatt für den SN74LVTH182646APM ist auf unserer Website verfügbar. Kunden werden empfohlen, das Datenblatt herunterzuladen, um detaillierte technische Informationen zu erhalten.
Kunden werden empfohlen, Angebote direkt auf unserer Website anzufordern. Holen Sie sich noch heute ein Angebot oder erfahren Sie mehr über dieses Produkt!
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 56SSOP
TI TSSOP56
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 56SSOP
IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 56SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 56TSSOP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
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IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
TI TQFP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH16952DGG TI
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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SN74LVTH182646APMTexas Instruments |
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Zielpreis (USD)
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