Deutsch
| Artikelnummer: | SN74LVTH18514DGGR |
|---|---|
| Hersteller / Marke: | Texas Instruments |
| Teil der Beschreibung.: | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP |
| Datenblätte: |
|
| RoHs Status: | |
| Zahlungsmittel: | PayPal / Credit Card / T/T |
| Versandweg: | DHL / Fedex / TNT / UPS / EMS |
| Aktie: |
Ship From: Hong Kong
| Anzahl | Einzelpreis |
|---|---|
| 2000+ | $4.8047 |
Online -RFQ -Einreichungen: Schnelle Antworten, bessere Preise!
| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Spannungsversorgung | 2.7V ~ 3.6V |
| Supplier Device-Gehäuse | 64-TSSOP |
| Serie | 74LVTH |
| Verpackung / Gehäuse | 64-TFSOP (0.240', 6.10mm Width) |
| Paket | Tape & Reel (TR) |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Zahl der Schaltkreise | 20-Bit |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Logiktyp | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| Strom - hoch, niedrig | 32mA, 64mA |
| Grundproduktnummer | 74LVTH18514 |
| SN74LVTH18514DGGR Einzelheiten PDF [English] | SN74LVTH18514DGGR PDF - EN.pdf |




SN74LVTH18514DGGR
Texas Instruments (Y-IC ist ein Qualitätsdistributor von Texas Instruments Produkten und bietet Kunden die besten Produkte und Services)
Der SN74LVTH18514DGGR ist ein 20-Bit-Scan-Test-Universalbuswandler mit 3,3 V LVCMOS/LVDS Ein- und Ausgangsfähigkeit. Er verfügt über 32mA treibende Ausgänge bei High-Level und 64mA bei Low-Level und arbeitet mit einer Versorgungsspannung von 2,7 V bis 3,6 V.
20-Bit-Scan-Test-Universalbuswandler
3,3 V LVCMOS/LVDS Einund Ausgangskapazität
32mA Treiber für High-Ausgänge und 64mA für Low-Ausgänge
Versorgungsspannung von 2,7 V bis 3,6 V
Optimiert für Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung
Bietet effiziente und zuverlässige Datenkommunikation
Geeignet für eine Vielzahl von Anwendungen
Band & Reel (TR) Verpackung
64-TFSOP (0,240 Zoll, 6,10 mm Breite) Gehäuse
64-TSSOP Lieferantenbestückungsgehäuse
Surface-Mount-Gehäuse
Produkt ist derzeit aktiv
Entsprechende oder alternative Modelle verfügbar, bitte kontaktieren Sie unser Vertriebsteam für weitere Informationen
Industrielle Automatisierung
Telekommunikationsausrüstung
Peripheriegeräte für Computer
Datenkommunikationssysteme
Das authoritative Datenblatt für den SN74LVTH18514DGGR ist auf unserer Website verfügbar. Kunden wird empfohlen, es für detaillierte technische Spezifikationen herunterzuladen.
Kunden wird empfohlen, Angebote auf unserer Website einzuholen. Fordern Sie jetzt ein Angebot an, um dieses zeitlich begrenzte Angebot zu nutzen.
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20TVSOP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP
IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SO
IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP
TI TQFP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SSOP
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SOIC
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SOIC
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 20SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
2026/05/12
2026/05/8
2026/04/28
2026/04/20
2026/04/17
2026/04/8
2026/03/31
2026/03/23
2026/03/20
2026/03/9
2026/03/4
2026/02/28
2026/02/3
2026/01/28
2026/01/19
2026/01/16
2026/01/9
2025/12/29
2025/12/25
2025/12/17
2025/12/10
2025/12/4
2025/11/25
2025/11/20
2025/11/11
2025/11/3
2025/10/30
2025/10/22
2025/10/16
2025/10/9
2025/09/28
2025/09/17
2025/09/9
2025/09/1
2025/08/25
2025/08/20
2025/07/3
2024/12/18
2023/06/21
2023/04/27
2022/07/1
2021/03/4
2020/09/10
2020/01/23
0 Artikel






2024/08/22
2025/07/2
2025/01/21
2025/01/22
SN74LVTH18514DGGRTexas Instruments |
Anzahl*
|
Zielpreis (USD)
|