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| Artikelnummer: | SN74ABT18504PM |
|---|---|
| Hersteller / Marke: | Texas Instruments |
| Teil der Beschreibung.: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Datenblätte: |
|
| RoHs Status: | |
| Zahlungsmittel: | PayPal / Credit Card / T/T |
| Versandweg: | DHL / Fedex / TNT / UPS / EMS |
| Aktie: |
Ship From: Hong Kong
| Anzahl | Einzelpreis |
|---|---|
| 160+ | $14.1127 |
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| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Supplier Device-Gehäuse | 64-LQFP (10x10) |
| Serie | 74ABT |
| Verpackung / Gehäuse | 64-LQFP |
| Paket | Tray |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Produkteigenschaften | Eigenschaften |
|---|---|
| Anzahl der Bits | 20 |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Logiktyp | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
| Grundproduktnummer | 74ABT18504 |
| SN74ABT18504PM Einzelheiten PDF [English] | SN74ABT18504PM PDF - EN.pdf |




SN74ABT18504PM
Y-IC ist ein hochwertiger Distributor von Texas Instruments Produkten und bietet Kunden die besten Produkte und Dienstleistungen.
Der SN74ABT18504PM ist ein Scan-Testgerät mit universellen Bus-Transceivern, das für Hochgeschwindigkeits-Datenkommunikationsanwendungen entwickelt wurde.
20-Bit-Scan-Testgerät mit universellen Bus-Transceivern \nUnterstützt eine Versorgungsspannung von 4,5 V bis 5,5 V \nBetriebstemperaturbereich von -40°C bis 85°C \nOberflächenmontage in einem 64-LQFP-Gehäuse (10x10)
Ermöglicht effizientes Testen und Debuggen komplexer digitaler Systeme \nBietet Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung \nBreiter Betriebstemperaturbereich für vielfältige Anwendungen \nKompaktes Oberflächenmontage-Gehäuse für platzbeschränkte Designs
Tray-Verpackung \n64-LQFP-Gehäuse (10x10) für Oberflächenmontage \nDetails zu Abmessungen und Pin-Konfiguration finden Sie im Datenblatt
Das SN74ABT18504PM ist ein aktives Produkt \nVergleichbare oder alternative Modelle sind möglicherweise erhältlich. Bitte kontaktieren Sie unser Verkaufsteam für weitere Informationen.
Telekommunikationsgeräte \nIndustrielle Automatisierungs- und Steuerungssysteme \nComputer- und Peripheriegeräte \nMedizinische Geräte
Das autoritativste Datenblatt für den SN74ABT18504PM ist auf unserer Website verfügbar. Wir empfehlen Kunden, es für detaillierte technische Spezifikationen herunterzuladen.
Kunden werden empfohlen, Angebote auf unserer Website anzufordern. Holen Sie sich ein Angebot oder erfahren Sie mehr über dieses Produkt und unsere Dienstleistungen.
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT18502APM TI
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
BUS XCVR DUAL 18-CH 3-ST 56PIN T
IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
BOUNDARY SCAN BUS TRANSCVR
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
BUS DRIVER, ABT SERIES, 4-BIT
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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SN74ABT18504PMTexas Instruments |
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Zielpreis (USD)
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